特点
高端通用X射线荧光分析仪，用于根据ISO 3497和ASTM B 568标准自动测量超薄镀层（0.05μm）百万分之一
以下的精细材料分析
使用Fischer公司超大有效面积的硅漂移探测器（SDD 50 mm²）
6种可切换基本滤片和4种可切换准直器优化测量条件
分析轻元素，例如铝，硅和磷
样品高度高达14厘米
高精度，可编程XY工作台，定位精度为5 µm，用于小型结构的自动测量
结构坚固，可进行连续测试，具有卓越的长期稳定性
经过认证的全面防护装置
应用
测试电子和半导体工业中的极薄涂层，例如厚度小于50nm的金和钯层；
在汽车制造业中测量硬质材料涂层
在光伏行业中测量镀层厚度
根据RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令（电子，包装和消费品）对有害物质如铅和镉进行痕量分析
黄金，其他贵金属和合金的分析和真实性测试
直接测定功能性NiP涂层中磷的含量
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